WD4000無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度,、三維形貌,、單層膜厚,、多層膜厚,。

1,、使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓Thickness,、TTV,、LTV、BOW,、WARP、TIR,、SORI等參數(shù)，同時(shí)生成Mapping圖,；

2,、采用白光干涉測(cè)量技術(shù)對(duì)Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時(shí)建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析表面形貌、粗糙度及相關(guān)3D參數(shù)；

3,、基于白光干涉圖的光譜分析儀,，通過數(shù)值七點(diǎn)相移算法計(jì)算,，達(dá)到亞納米分辨率測(cè)量表面的局部高度,，實(shí)現(xiàn)膜厚測(cè)量功能,；

4,、紅外傳感器發(fā)出的探測(cè)光在Wafer不同表面反射并形成干涉,，由此計(jì)算出兩表面間的距離（即厚度）,，可適用于測(cè)量BondingWafer的多層厚度,。該傳感器可用于測(cè)量不同材料的厚度，包括碳化硅,、藍(lán)寶石、氮化鎵,、硅等,。

測(cè)量功能

1,、厚度測(cè)量模塊：厚度、TTV(總體厚度變化),、LTV、BOW,、WARP,、TIR、SORI,、平面度,、等；

2,、顯微形貌測(cè)量模塊：粗糙度,、平整度、微觀幾何輪廓,、面積,、體積等。

3,、提供調(diào)整位置,、糾正,、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,。其中調(diào)整位置包括圖像校平,、鏡像等功能；糾正包括空間濾波,、修描,、尖峰去噪等功能,；濾波包括去除外形、標(biāo)準(zhǔn)濾波、過濾頻譜等功能；提取包括提取區(qū)域和提取剖面等功能,。

4,、WD4000無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)提供幾何輪廓分析,、粗糙度分析,、結(jié)構(gòu)分析,、頻率分析、功能分析等五大分析功能,。幾何輪廓分析包括臺(tái)階高,、距離、角度,、曲率等特征測(cè)量和直線度、圓度形位公差評(píng)定等,；粗糙度分析包括國際標(biāo)準(zhǔn)ISO4287的線粗糙度,、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全參數(shù),；結(jié)構(gòu)分析包括孔洞體積和波谷,。

部分技術(shù)規(guī)格

品牌：CHOTEST中圖儀器

型號(hào)：WD4000系列

厚度和翹曲度測(cè)量系統(tǒng)

可測(cè)材料：砷化鎵 ;氮化鎵 ;磷化 鎵;鍺;磷化銦;鈮酸鋰;藍(lán)寶石;硅 ;碳化硅 ;玻璃等

測(cè)量范圍：150μm~2000μm

掃描方式：Fullmap面掃、米字、自由多點(diǎn)

測(cè)量參數(shù)：厚度,、TTV(總體厚度變 化),、LTV、BOW,、WARP,、平面度、線粗糙度

三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)

測(cè)量原理：白光干涉

干涉物鏡：10X(2.5X,、5X,、20X、50X,可選多個(gè))

可測(cè)樣品反射率：0.05%~100%

粗糙度RMS重復(fù)性：0.005nm

測(cè)量參數(shù)：顯微形貌 ,、線/面粗糙度,、空間頻率等三大類300余種參數(shù)

膜厚測(cè)量系統(tǒng)

測(cè)量范圍：90um(n= 1.5)

景深：1200um

最小可測(cè)厚度：0.4um

紅外干涉測(cè)量系統(tǒng)

光源：SLED

測(cè)量范圍：37-1850um

晶圓尺寸：4"、6",、8",、12"

晶圓載臺(tái)：防靜電鏤空真空吸盤載臺(tái)

X/Y/Z工作臺(tái)行程：400mm/400mm/75mm

如有疑問或需要更多詳細(xì)信息，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢,。

應(yīng)用場景

1,、無圖晶圓厚度、翹曲度的測(cè)量

通過非接觸測(cè)量，將晶圓上下面的三維形貌進(jìn)行重建,，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,、粗糙度、總體厚度變化(TTV),，有效保護(hù)膜或圖案的晶片的完整性,。

2、無圖晶圓粗糙度測(cè)量

Wafer減薄工序中粗磨和細(xì)磨后的硅片表面3D圖像,，用表面粗糙度Sa數(shù)值大小及多次測(cè)量數(shù)值的穩(wěn)定性來反饋加工質(zhì)量,。在生產(chǎn)車間強(qiáng)噪聲環(huán)境中測(cè)量的減薄硅片，細(xì)磨硅片粗糙度集中在5nm附近,，以25次測(cè)量數(shù)據(jù)計(jì)算重復(fù)性為0.046987nm,，測(cè)量穩(wěn)定性良好。

懇請(qǐng)注意：因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,，本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,，恕不另行通知，不便之處敬請(qǐng)諒解,。